摘要：SURTRONICDUO 粗糙度儀 DUO為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。DUO通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環境要求。

摘要：Surtronic25便攜式粗糙度輪廓儀技術參數. 傳感器 (1) 測量量程： 300um （2) 分辨率： 0.01um (3)測量精度： 2%讀數值+LSDum (4) 傳感器類型： 電感 （5）測量力： 150-300mg (6)金剛石測針： 側頭半徑5um . 測量參數 Ra，Rz，Rt，Rp，Rmr，Rpc，Rsm，

摘要：Form Talysurf Intra經濟型粗糙度輪廓儀技術參數 . 傳感器 (1) 類型： 電感 (2) 測量量程：1mm (同時測量粗糙度和輪廓，使用60mm長測桿) 2mm (使用120mm長測桿，選購) (3) 分辨率： 1mm量程時16nm，0.2mm量程時3.2nm (4) 量程與分辨率之比： 65,536:1 (5) 測量

摘要：Form Talysurf Inductive表面粗糙度輪廓儀技術參數 (1) 測量長度： 0.1mm-120mm (2) 驅動： 可使用操縱桿或計算機驅動 主要特點 可編程自動操作，便于批量測試

摘要：Form Talysurf PGI表面粗糙度輪廓儀技術參數 (1) 類型： 位相光柵干涉 (2) 測量量程： 4mm (使用60mm長金剛石測桿，同時測量粗糙度和輪廓) 8mm (使用120mm長球形測桿，測量輪廓) 主要特點 傳動長度200毫米或120毫米 用于通用測量/軸承測量/光學非球面測量

摘要：Talyrond 365圓度儀/圓柱度儀技術參數 1. 測量能力 (1) 最大工件直徑： 400mm （可擴展至500毫米） 2. 工作臺和主軸 (1) 類型： 空氣軸承 (2)調心調平方式： 專利技術的三點支撐

摘要：Talysurf CCI白光干涉表面輪廓儀技術參數(1) 類型： CCI 干涉（相干相關干涉） (2) 分辨率： 0.1 A (3) 測量點數： 1,048,576 ( 1024 x 1024 點陣 ) 更詳細參數和有關應用問題請垂詢辦事處產品負責人。 主要特點•專利的相干相關算法 •0.01nm分辨率 

摘要：Talysurf CLI2000三維表面形貌儀技術參數 主要特點.可配置電感接觸測頭、激光測頭或光學共聚焦測頭 .可進行接觸或非接觸三維測量 .強大的三維分析軟件 儀器介紹Talysurf CLI 2000多測頭三維形貌輪廓儀，可配置光學共軸、激光、及電感傳感器。